דף הבית » אלקטרוניקה ומוליכים למחצה
אלקטרוניקה ומוליכים למחצה
תעשיית המכונות לבדיקת אלקטרוניקה ומוליכים למחצה בישראל היא תעשייה נרחבת, הצומחת ומתפתחת כל העת ואף מתמודדת בהצלחה רבה מול תעשיות דומות ברחבי העולם.
שם המשחק בתעשייה זו הינו רוחב פס עצום, ולכן יש צורך להשתמש במצלמות בעלות רזולוציות גבוהות, עם קצבי עבודה מהירים, תאורות ייחודיות ועיבוד תמונה יעיל.
ASIO Vision היא הספקית המרכזית ללקוחות המובילים בתחום, בזכות השירותים הבאים:
- אספקת מצלמות שטח בעלות רזולוציות גבוהות.
- אספקת מצלמות שורה מתוצרת היצרנים המובילים בתחום.
- אפיון, תכנון וייצור של תאורות ייחודיות.
- אספקת מגוון רחב של מצלמות בעלות אורכי גל ייחודיים.
- שילוב של מצלמות המציגות טכנולוגיות חדשניות, כגון מולטי / היפר ספקטרליות ומצלמות בעלות קיטוב משתנה.
- שימוש בספריות עיבוד תמונה ייחודיות, כגון:
- Board, Wafer and Dye inspection algorithms בדיוקים הנמוכים ממיקרון בודד.
- Surface Inspection לכל סוגי המשטחים, כולל משטחים רפלקטיביים.
- Competence Inspection Algorithms
מאמרים בנושא

חברת Asio Vision גאה להציג: סדרת LuxiLine החדשה לפתרונות תאורה קווית בראיית מכונה
אנו ב-Asio Vision, הנציגים הרשמיים של חברת L.E.S.S. SA בישראל, שמחים להכריז על הרחבת היצע פתרונות התאורה שלנו לתחום ראיית המכונה (Machine Vision) עם השקת סדרת LuxiLine. זהו דור חדש של פתרונות תאורה קווית, שנועד לענות על הדרישות הגוברות לביצועים גבוהים ושילוב נוח במערכות בדיקה מודרניות. גמישות מקסימלית לתעשייה סדרת

הכירו את Specim FX19: הדור הבא של צילום היפר-ספקטרלי בטווח NIR מורחב
בעולם הראייה הממוחשבת והבדיקות הלא-הרסניות (NDT), היכולת לזהות חומרים שאינם נראים לעין אנושית היא קריטית. אנו גאים להציג את ה-Specim FX19, מצלמה היפר-ספקטרלית במהירות גבוהה הפועלת בטווח ה-NIR/SWIR המורחב של 1130-1920 ננומטר. מצלמה זו תוכננה במיוחד עבור סביבות תעשייתיות תובעניות, תוך שילוב של מהירות סריקה גבוהה ועמידות לאורך זמן, והיא

תאורת לייזר מבוססת סיב אופטי לדור הבא של מערכות תאורה
ASIO Vision משווקת בישראל פתרון תאורה ייחודי וחדשני, המבוסס על מקור תאורת לייזר, המחליף תאורת LED מסורתית. מערכת התאורה מבוססת על לייזר המשגר אות אופטי לתוך סיב אופטי ננו-אקטיבי. האות האופטי מגיב עם המבנה הייחודי של הסיב, ובזכות אינטראקציה זו נוצר מערך של מקורות תאורה נקודתיים רבים לאורך הסיב. תהליך